c 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测厚仪测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

　　d 边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。测厚仪这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f 试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据测厚仪。

　　g 表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，测厚仪以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　g 磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　h 附着物质

　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感测厚仪，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。